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Seminario VAIID: Intervalos de confianza y estadísticas con muestras pequeñas

 
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VAIID

 

Objetivo: Presentar mediante un enfoque sencillo, el uso de técnicas estadísticas habituales para trabajar con muestras pequeñas. 

 

Ponente:

Dr. Eduardo Santillan Zeron. Investigador Nacional nivel III en el Centro de Investigación y de Estudios Avanza